如何制备SEM样品的横断面

1. 如何制备SEM样品的横断面

如果你的不锈钢可以用手掰弯的话。你可以试试对样品掰弯处理，因为氧化铝模板是脆性的，所以在掰弯的时候肯定有地方裂开，裂开往上翘的角度大的在平面SEM中就可以侧向看到断面，我用过这个方法，还算是比较有效的方法

2. 如何制备sem石墨烯薄膜的截面

bachier(站内联系TA)不是个笑话,SEM表征石墨烯的也不少,我也不做石墨烯,我们这一堆人做,他们都用SEM.石墨烯是导电的材料,不用喷金fansire(站内联系TA)喷了也没关系吧,我记得实验室的石墨烯SEM也是喷了金的xiejf(站内联系TA)导电性好,不要喷金.喷了反而会影响表征的准确度wulishi8(站内联系TA)石墨烯是导电的,不需要喷金. 不喷也行,看得还行,GO和RGO的导电性够了神魔流转(站内联系TA)GO 和石墨烯做SEM都是不必要的,AFM和TEM有用,但SEM是真心没用,除了做负载或特定形貌时可能需要观察下.jiji188(站内联系TA)不喷也行,我们实验室一般都是滴在ITO上直接照SEM的,效果还行.梦日边(站内联系TA)我做的表征时喷金了,看了还挺清楚,没试过不喷金zmcai(站内联系TA)你的SEM是不是有问题,我们一般是放在硅片上,硅片是半导体,有导电能里,但是你用二氧化硅行么?我们一般都是直接涂在做SEM的硅片上拍电极,不用喷金也可以.如果你喷金了,导电性会好些,但是如果没控制好,可能会看到大颗粒的金,也是会影响表征的.zhouzhixin(站内联系TA)不需要喷金的,直接滴到硅片上的,这个主要还得看你的石墨烯粒径大小,太小的话看不出来什么有用的信息fluoro(站内联系TA)我们表征石墨都不喷,效果还挺清晰的苏惜不若(站内联系TA)不用喷金的,导电性很好的.yjiaahedu(站内联系TA)SEM可以表征,也不需要蒸金,若观察到褶皱的话,说明层数较少,但是无法确定是石墨烯还是石墨片,需要HRTEM和拉曼光谱（波数50-3000）:Dyy秋水(站内联系TA)哈哈,不用喷金,只要你的基底能够导电就可以了,如果在二氧化硅基底上,SEM的图是黑色的,不过放大以后还是能看到一些细节的威威号(站内联系TA)不用喷金,把石墨烯用水分散,足够稀（几乎看不到颜色）,超声.

3. 如何测量横截面的SEM图像？

可以把材料切一小块儿，然后镶样吧（就像磨小试样的金相一样），磨好后再喷金，然后再用SEM观察玻璃涂层的均匀性以及厚度吧。楼上说的掰断的方法，看是能看，但看的都是
断口
的形貌吧，是否会影响观察玻璃涂层的厚度呢。

4. 界面形貌和断面形貌在SEM下的区别

丝毫不敢放松警惕

5. 跪求基于matlab对sem图像进行边缘检测，各个算子程序怎么写？

im=imread('h1.jpg');
I=rgb2gray(im);
 bw1=edge(I,'sobel');
 bw2=edge(I,'roberts');
  bw3=edge(I,'canny');
  bw4=edge(I,'prewitt');
     figure(2),subplot(2,2,1);imshow(bw4);title('prewitt算子效果图');
 subplot(2,2,2);imshow(bw1);title('sobel算子效果图');
  subplot(2,2,3);imshow(bw2);title('roberts算子效果图');
 subplot(2,2,4);imshow(bw3);title('canny算子效果图');

6. 如何应用SEM研究碳酸钙填充聚氯乙烯样品中碳酸钙的分散均匀性及碳酸钙粒子表面与聚氯乙烯基体间结合的好坏

切片后腐蚀掉表面的基体，突出分散相，或者液氮脆断看剖面，电镜观察分散均匀性。看作为分散相的碳酸钙颗粒尺度，如果小于50nm，最好用场发射扫描电镜，如果大于50nm用普通钨灯丝扫描电镜即可。与基体结合好坏，看拉伸断口再做推断。
一般建议，具体专业问题得查看有关文献。

7. 国标里，金属蠕变试验中的矩形截面试样的图怎么看呢？为什么会有两个局部放大图？而且两个图完全不一样？

32351251放gcd郭德纲的股份的风格的股份的覆盖广泛

8. 涂层测厚仪一般是用什么原理测的？

涂层测厚仪有涡流测厚原理和磁性测厚原理之分.　　影响涂层测厚仪测量的若干因素。磁性法测量厚度受基体金属性变化的影响(在实际应用中，低碳钢磁性的变化可认为是轻微的)，为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成份及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;每一种仪器都有一个临界厚度，大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响;对试件表面形状的陡变敏感，因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的;试件的曲率对测量有影响，随着曲率半径的减少明显地增大，因此，在弯曲试件的表面上测量也是不可靠的;探头会使软涂层试件变形，因此在这些试件上测不出可靠的数据;基体金属和涂层的表面粗糙度对测量有影响。
高频交流信号在探头线圈中产生电磁场，探头靠近导体时，就在其中形成涡流。探头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了探头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电涂层厚度的大小。由于这类涂层测厚仪探头专门测量非铁磁金属基体上的涂层厚度，所以通常称为非磁性探头。
　　非磁性探头采用高频材料做线圈芯。与磁感应原理比较，主要区别是涂层测厚仪探头不同，信号频率不同，信号的大小、标度关系不同。采用电涡流原理的涂层测厚仪，原则上对所有导电基体上的非导电涂层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。涂层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者导电率之比至少相差3-5倍。虽然钢铁基体亦为导体，但这类任务还是采用磁性原理测量涂层厚度较为合适。

　　如果基体上基体金属粗糙，还必须在未涂的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点，或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解去除涂层后，再校对仪器的零点;周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重干扰磁性测厚工作;那些妨碍探头与涂层表面紧密接触的附着物质，必须清除，在测量中，要保持压力恒定，探头与试件表面保持垂直，才能达到精确的测量。粗糙度增大，影响增大，粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同的位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。